力學案例
退PIN測試曲線
下一代串行數(shù)據(jù)標準采用的高速率已經(jīng)進入到微波領域。比如，即將到來的SuperSpeed USB(USB 3.0)通過雙絞線對線纜傳輸速的率就達到了5Gb/s。通過連接器和線纜傳輸如此高的速率必須考慮通道的不連續(xù)性引起的失真。為了將失真程度保持在一個可控的水平，標準規(guī)定了線纜和連接器對的阻抗和回波損耗。最新的測量使用S參數(shù)S11表征而且必須歸一化到線纜的90歐姆差分阻抗。
當測量USB 3.0通道的S參數(shù)時，可選的儀器是時域反射計或TDR。TDR系統(tǒng)通常往待測器件注入一個階躍電壓信號然后測量是時間函數(shù)的反射電壓。差分測量通過產(chǎn)生極性相反可相對定時的階躍電壓對實現(xiàn)。這篇文章中談到的都是差分信號。
Z0 是源阻抗，ZL(t)是待測器件的阻抗，r(t)是反射系數(shù)，Vr(t)/Vi(t)是入射和發(fā)射電壓的比率。式(1)假設到待測器件的源，線纜和連接器都是匹配的，但事實上這種情況很少見。為了補償線纜和連接器的不理想，參考平面校正（基線校正）通常進行開路，短路，負載校準。調整式 (1)可以得到待測器件的阻抗和時間（或距離）的函數(shù)，所以可以使用校準過的TDR做阻抗測量。
當測量USB 3.0通道的S參數(shù)時，可選的儀器是時域反射計或TDR。TDR系統(tǒng)通常往待測器件注入一個階躍電壓信號然后測量是時間函數(shù)的反射電壓。差分測量通過產(chǎn)生極性相反可相對定時的階躍電壓對實現(xiàn)。這篇文章中談到的都是差分信號。
Z0 是源阻抗，ZL(t)是待測器件的阻抗，r(t)是反射系數(shù)，Vr(t)/Vi(t)是入射和發(fā)射電壓的比率。式(1)假設到待測器件的源，線纜和連接器都是匹配的，但事實上這種情況很少見。為了補償線纜和連接器的不理想，參考平面校正（基線校正）通常進行開路，短路，負載校準。調整式 (1)可以得到待測器件的阻抗和時間（或距離）的函數(shù)，所以可以使用校準過的TDR做阻抗測量。
